形貌及粒径分布是材料尤其是纳米材料分析的重要组成部分，剂拓材料科技有限公司为您提供专业高效的纳米材料的几何形貌，材料的颗粒度及粒径分布方面的分析测试服务。
测试方法：根据待测物质的性质不同，我们会为您提供专业的成分分析测试方案，主要的测试方法如下：
测试方法 适用条件
扫描电子显微镜（SEM）/场发射扫描电子显微镜 材料，粉体，矿物粒径大小，表面断面形貌分析, 填料分散状态复合材料结构, 材料晶型分析晶粒大小,材料物相分析。要求样品导电，或喷碳或者喷金处理。
结合EDS进行元素定性分析。
透射电镜（TEM） 透射电镜可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。投射电镜的分辨率比扫描电镜要高一些。
投射电镜优点：获得高倍放大倍数的电子图像；得到电子衍射花样。
扫描隧道显微镜（STM） 扫描隧道显微镜作为一种扫描探针显微术工具，扫描隧道显微镜可以让科学家观察和定位单个原子，它具有比它的同类原子力显微镜更加高的分辨率。此外，扫描隧道显微镜在低温下（4K）可以利用探针*端
原子力显微镜（AFM） AFM提供真正的三维表面图。同时，AFM不需要对样品的任何特殊处理。电子显微镜需要运行在高真空条件下，原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子，甚至活的生物组织。原子力显微镜与扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）相比，由于能观测非导电样品，因此具有更为广泛的适用性。
样品要求：
根据不同测试方法具体给出。
测试标准：
GB/T 16594-2008微米级长度的扫描电镜测量方法通则
GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
ASTM E1056-2013 Standard Practice for Installation and Service of
GB/T 18907-2013微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
报告内容
原始图谱，原始数据及数据分析
常规图谱
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